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MICROTEST 9333+6420 PCB線圈微短路測(cè)試儀

NFC天線或WPC無(wú)線充電線圈板採(cǎi)用軟板材料能夠滿足『智慧手持設(shè)備』或『穿戴式智慧產(chǎn)品』輕巧訴求下，F(xiàn)PC佈線成線圈繞組不論是蝕刻或銀膠印刷會(huì)因製程不良導(dǎo)致線圈與線圈相互接觸產(chǎn)生微短路現(xiàn)象，往往這種品質(zhì)瑕疵漏洞造成下游模組廠功能測(cè)試結(jié)果為NG，後變成客訴的主要因素。

線圈微短路現(xiàn)象嚴(yán)重時(shí)會(huì)導(dǎo)致WPC無(wú)線充電模組無(wú)法進(jìn)行充電功能，或是應(yīng)用在行動(dòng)支付上NFC應(yīng)用卡片感應(yīng)不良，因此PCB線圈微短瑕疵檢測(cè)成為品質(zhì)的重要課題。PCB線圈微短測(cè)試機(jī)9333採(cǎi)用非破壞性的高壓檢測(cè)，檢測(cè)方式為加壓線圈的兩端利用瞬間電壓使待測(cè)物線圈電感與測(cè)試機(jī)內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)電容相互諧振出能量從釋放到衰減會(huì)產(chǎn)出一組波形，透過波形比對(duì)出PCB線圈本身絕緣、電感量與並聯(lián)電容量為小的變化，藉此把關(guān)PCB製程對(duì)線圈造成的微短路瑕疵。

• PCB線圈因製程不良，導(dǎo)致線圈微短現(xiàn)象(圈與圈之間/層與層之間相互接近短路)，可能在成品測(cè)試階段出現(xiàn)NG不良的客訴風(fēng)險(xiǎn)
• 製程分析或是品保控管品質(zhì)的蕞佳
• 可同時(shí)測(cè)試多組線圈板提升效率
• 電測(cè)方式非破壞性分析- 瞬間電壓測(cè)試
• 透過L/C相互放電諧振釋放出波形進(jìn)行比對(duì)
• 整合LCR 量測(cè)功能，對(duì)線圈板進(jìn)行權(quán)方位品質(zhì)控管(電感量/電感Q值/直流電阻)

量測(cè)數(shù)據(jù)

規(guī)格

功能項(xiàng)目

MICROTEST 9333+6420 PCB線圈微短路測(cè)試儀